量子效率測試儀的這些知識值得我們學(xué)習(xí)

更新時間：2024-08-06 點擊次數(shù)：1000

　　量子效率測試儀是指太陽能電池的電荷載流子數(shù)目與照射在太陽能電池表面一定能量的光子數(shù)目的比率。因此，太陽能電池的量子效率與太陽能電池對照射在太陽能電池表面的各個波長的光的響應(yīng)有關(guān)。太陽能電池的量子效率與光的波長或者能量有關(guān)。如果對于一定的波長，太陽能電池吸收了所有的光子，并且我們搜集到由此產(chǎn)生的少數(shù)載流子(例如，電子在P型材料上)，那么太陽能電池在此波長的量子效率為1。

　　對于能量低于能帶隙的光子，太陽能電池的量子效率為0。理想中的太陽能電池的量子效率是一個正方形，也就是說，對于測試的各個波長的太陽能電池量子效率是一個常數(shù)。但是，絕大多數(shù)太陽能電池的量子效率會由于再結(jié)合效應(yīng)而降低，這里的電荷載流子不能流到外部電路中。影響吸收能力的同樣的太陽能電池結(jié)構(gòu)，也會影響太陽能電池的量子效率。

量子效率測試儀

Model	QTESTSTATION1000AD
光源：	150w(standard)
波長范圍：	200-1100 nm or more
分辨率：	1nm,5nm,10nm,as per order
重復(fù)性：	<±0.2%@main wave range
精度：	<±1%@main wave range
光柵：	Double
測試方法：	Chopped AC mode with Lockin Amplifier
光斑尺寸：	Adjustable,0.5x0.5mm Min
測量參數(shù)：	QE,Jsc@AM0,AM1.5G,AM2.0
計算機：	IPC pre-installed
軟件：	Pharos-QE5.6
工作溫度:	20℃
輸入電源：	110-240VAC/5A
外形尺寸：	39x20×14"（WxDxH）
注：欲了解更多的類型，請聯(lián)系銷售工程師

　　量子效率測試儀用各種波長不同的單色光分別照射太陽能電池時，由于光子能量不同以及太陽能電池對光的反射、吸收、光生載流子的收集效率等因素，在輻照度相同的條件下會產(chǎn)生不同的短路電流。以所測得的短路電流密度與輻照度之比即單位輻照度所產(chǎn)生的短路電流密度與波長的函數(shù)關(guān)系來測光譜響應(yīng)，以光譜響應(yīng)的值進行歸一化的光譜響應(yīng)來測相對光譜響應(yīng)。

　　光譜響應(yīng)特性包含了太陽能電池的許多重要信息，同時又與測試條件有密切關(guān)系。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，當(dāng)用單色光測量太陽能電池的光譜響應(yīng)時一般都要在模擬陽光的偏置光照射下進行側(cè)量，利用給定的陽光光譜輻照度和按照規(guī)定正確測得的光譜響應(yīng)數(shù)據(jù)，能夠計算出標(biāo)準(zhǔn)條件下太陽能電池的短路電流密度。

量子效率測試儀

　　量子效率測試儀測試方法與步驟：

　?。?）將待測CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測器，以及它們各自的驅(qū)動電路放置在暗室中，并調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關(guān)，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動位移臺的開關(guān)。

　　（2）通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門，調(diào)整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量。（一般調(diào)好不用管）。

　　（3）調(diào)節(jié)移動位移臺，將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處（目前大約41500）。

　?。?）記錄皮安表的數(shù)值，查表，找出對應(yīng)波長的數(shù)值，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值，得出功率值。（正好皮安對皮瓦）

　　（5）蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備，連續(xù)采圖，設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。

　?。?）調(diào)節(jié)移動位移臺，將CCD工業(yè)相機調(diào)到激光光斑重合處，（目前大約是回到原點）。

　?。?）揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長，功率值后，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。

　　（8）記錄量子效率測試儀的量子效率值。

上一篇：太陽光模擬器需要注意的細節(jié)有哪些？
下一篇：太陽能電池和組件的I-V測量的技術(shù)原理